HAST加速老化試驗箱（Highly Accelerated Stress Test Chamber）是一種用于模擬加速老化環(huán)境的實驗室設備，主要用于評估電子元器件、半導體芯片、以及其他材料在高溫、高濕和高壓條件下的性能和耐久性。

一、原理：

1.高溫：HAST試驗箱通過設定高溫（通常為130℃），來加速材料的老化過程。高溫可以加速化學反應和物理變化，模擬產(chǎn)品在長時間使用中的老化情況。

2.高濕：試驗箱內(nèi)部的相對濕度通常設定在85%左右，這種高濕度條件可以加速潮氣通過外部保護材料或芯片引線周圍的密封封裝，從而評估產(chǎn)品在高溫高濕環(huán)境下的耐濕性能。

3.高壓：HAST試驗箱在受控的壓力容器內(nèi)增加大氣壓力，通常可以達到3 atm或更高，以實現(xiàn)超過100℃的溫濕度控制。這種壓力的增加可以加速溫濕度對材料的老化效果，如材料的遷移、腐蝕、絕緣劣化等。

4.偏置電壓（bHAST）：在某些HAST試驗中，除了高溫、高濕和高壓條件外，還可以對樣品施加偏置電壓，模擬在實際使用中可能遇到的電應力，以評估電子元件在電應力下的耐久性。

5.非飽和蒸汽測試：HAST試驗箱通常指相對濕度為85%的非飽和蒸汽測試，與PCT試驗箱（通常指100%相對濕度的飽和蒸汽測試）不同，HAST試驗箱通過在高度受控的壓力容器內(nèi)設定和創(chuàng)建溫度、濕度、壓力的各種條件來完成測試。

HAST加速老化試驗箱廣泛應用于IC半導體、連接器、線路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏組件等行業(yè)相關(guān)產(chǎn)品的加速老化壽命試驗。

以上關(guān)于HAST加速老化試驗箱的概念及原理的介紹。